Une plongée au cœur de l’observabilité avec Alain PHAM

Dans notre série de présentation des intervenants du Paris Monitoring Day, nous avons l’honneur de vous dévoiler Alain PHAM, Principal Solutions Engineer chez Grafana. Avec plus de 14 années d’expérience dans le domaine des systèmes distribués, Alain est un expert en observabilité, en développement applicatif et en intégration de données. Véritable passionné de l’open source, il partage régulièrement ses connaissances au sein de diverses communautés techniques et lors de conférences à travers le monde.

Titre de sa présentation :
Tests de Performance et Continuous Profiling : Les Nouveaux Piliers de l’Observabilité

Pourquoi ne pas manquer la session d’Alain ?

Dans sa session, Alain va explorer comment les systèmes révèlent leurs faiblesses lorsqu’ils sont soumis à une forte charge. Il démontrera comment les tests de performance, associés au Continuous Profiling (profilage continu ), permettent de renforcer l’observabilité des systèmes modernes.

Aujourd’hui, il ne suffit plus de surveiller les métriques traditionnelles. Avec des systèmes de plus en plus complexes et distribués, les entreprises ont besoin d’une visibilité approfondie pour identifier les goulots d’étranglement et résoudre les problèmes avant qu’ils n’affectent les utilisateurs finaux. Grafana K6, un outil de tests de performance, et Grafana Pyroscope, une technologie de profilage continu, joueront un rôle central dans la présentation d’Alain.

Les points clés de la présentation :

1. Renforcer l’observabilité avec le profilage continu : Alain expliquera comment le Continuous Profiling permet de surveiller en continu les ressources utilisées par les applications en production, en offrant une granularité beaucoup plus fine que les simples métriques ou logs.
2. Identifier les failles sous pression : Lorsque les systèmes sont soumis à des charges élevées, c’est souvent à ce moment-là que les failles de performance apparaissent. Les tests de performance avec Grafana K6 vous permettront de les découvrir avant qu’elles ne deviennent critiques.
3. Combiner les métriques, logs, traces et profilage : Alain discutera de la façon dont le profilage continu, combiné avec les traditionnels piliers de l’observabilité (métriques, logs et traces), offre une visibilité complète et proactive sur les performances des systèmes.
4. Cas d’utilisation et meilleures pratiques : Attendez-vous à des démonstrations pratiques et des cas réels d’utilisation des outils Grafana K6 et Grafana Pyroscope, qui montrent comment ces technologies peuvent transformer la façon dont vous surveillez et améliorez vos applications.

Qui est Alain PHAM ?

Alain PHAM est plus qu’un simple ingénieur en solutions. En tant que Principal Solutions Engineer chez Grafana Labs, il a participé à la résolution de nombreux défis liés à l’observabilité dans des systèmes complexes et à grande échelle. Son parcours le positionne comme un expert dans l’intégration de solutions open source pour les entreprises cherchant à améliorer leur visibilité sur les performances de leurs infrastructures.

Sa passion pour le partage et la collaboration au sein des communautés techniques en fait une figure incontournable dans l’univers de l’observabilité. Vous ne voudrez pas manquer l’occasion de découvrir les précieuses connaissances qu’il apportera au Paris Monitoring Day.

Inscrivez-vous maintenant !

Ne ratez pas cette opportunité unique d’assister à la session d’Alain et d’en apprendre davantage sur les dernières tendances et innovations en matière d’observabilité. Venez poser vos questions et échanger avec l’un des experts du domaine.

#ParisMonitoringDay #Observabilité #PerformanceTesting #ContinuousProfiling #Grafana #K6 #Pyroscope #OpenSource #SystèmesDistribués #Monitoring #TechConference #DevOps #SRE #CloudNative #PerformanceOptimization